Browsing by Author "Chavez Vasquez, Billy Ray"

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    Efecto de la temperatura de recocido sobre la densidad y movilidad de portadores de carga de películas semiconductoras de nio dopadas a una concentración 3 molar con nanoparticulas de oro
    (Universidad Nacional de Trujillo, 2017-01) Chavez Vasquez, Billy Ray; Diaz Diaz, Alex Fabián
    En esta investigación se logró evaluar el efecto de la temperatura de recocido sobre la densidad y movilidad de portadores de carga de películas semiconductoras de NiO dopadas a una concentración 3 Molar con nanopartículas de oro (NpAu). Se llevó a cabo el dopaje del NiO con las nanopartículas de oro (NpAu) mediante la síntesis Sol – Gel, la fabricación de las películas delgadas fueron elaboradas (Deposición) mediante el uso de la técnica llamada “Spin – coating” y recocidas a diversas temperaturas (200°C, 300°C y 400°C). La caracterización de las películas delgadas para el estudio de sus propiedades ópticas y eléctricas se llevó a cabo mediante los ensayos de Espectroscopia de absorción en el ultravioleta – visible y la técnica de cuatro puntas basado en el método de Lord Kelvin, el método basado en el fenómeno de efecto Hall. A la temperature de recocido de 400°C se logró la movilidad de portadores de carga mas apropiado, que fue 2.168 𝑐𝑚2/𝑉. 𝑠. Asi mismo se obtuvo la mejor densidad de portadores de carga que fue 1.16𝑥1013 𝑐𝑚−3 logrado a 200°C de recocido. En conclusion se podría decir que 400°C es la temperatura mas adecuada de recocido para el NiO dopadas a una concentración 3 Molar con nanopartículas de oro (NpAu), ya que se mejora sus propiedades ópticas (Menor valor de la brecha energética) y sus propiedades eléctricas (Mayor valor de la conductividad eléctrica)